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RASTERELEKTRONENMIKROSKOPIE REM-EDX Bei der REM – Rasterelektronenmikroskopie werden anstelle von Licht Elektronenstrahlen zur Erzeugung der Bilder verwendet. Dadurch wird ein deutlich höheres Auflösungsvermögen erreicht. Das Rasterelektronenmikroskop bildet Oberflächen von Proben mit einer dreidimensionalen Perspektive ab, wobei die große Tiefenschärfe von besonderer Bedeutung ist. Aus einer Elektronenquelle emittierte Elektronen werden zu einem feinen Strahl gebündelt. Dieser Strahl bewegt sich in einem genau definierten Raster über die Probenoberfläche. Die durch die Wechselwirkung mit dem Primärstrahl von der Probenoberfläche emittierten Elektronen werden von Detektoren aufgefangen und in ein Bild umgewandelt: Die Abbildung mit Sekundärelektronen (SE) ermöglicht die Darstellung der Topographie der Probenoberfläche; die Abbildung mit Rückstreuelektronen (Backscattered electrons, BSE) liefert zusätzlich noch Information über die unterschiedliche Zusammensetzung der Probenoberfläche (im BSE Modus: helle Stellen –schwerere Elemente, dunkle Stellen –leichtere Elemente). EINSATZGEBIET: Oberflächentopographie und Oberflächenstruktur - Oberflächenrauigkeiten - Unterschiedliche Elementzusammensetzung - Bruchflächencharakterisierung - Teilchengrößenbestimmung von Pulvern Gefügeuntersuchungen - Korngrößenverteilung - Phasenanalyse - Ausscheidungsidentifikation Schichtdickenbestimmung, Schichtstrukturanalyse Elementanalyse (EDX) Kristallographie, Orientierung, Textur (EBSD) SPEZIFIKATIONEN: Beschleunigungsspannung: 0,1 –30 kV Auflösung: Punkt zu Punktauflösung ca. 1 nm ; aufgrund FEG auch ausgezeichnete Auflösung bei geringen Beschleunigungsspannungen Maximaler Gasdruck in Probenkammer: 1,3 mbar (Semi)-quantitative Elementanalyse (EDX) für Elemente mit Ordnungszahlen ≥ Bor (EDAX-TEAM OCTANE PLUS Version. 4.3 System) Analyse der Orientierung mittels EBSD (Auflösung 100 nm) PROBENANFORDERUNGEN: Probegröße: max. 10 x 10 cm maximale Probenhöhe (bei Elementanalyse): 2 cm Probenzustand: fest, pulverförmig MÖGLICHE PROBEN: Leitende Oberflächen: z.B. Metalle Nicht leitende Oberflächen: z. B. Kunststoffe, Keramiken, Papier, etc.,…

PRODUCT DESCRIPTION The voltage sensors of Type V360C-xx are commonly used in T-connectors of different manufacturers. T-connectors use a blind plug to secure the T-connector in place after installation. Our sensors can be used instead of the blind plug in the T-connector and serve both to secure the T-connector in place and measure voltage. The sensor has a point for common earth connection, and an output cable for connection with an intelligent electronic device (IED). PRODUCT ADVANTAGES Passive components – No need for power supplies for internal active devices Short-form factor – Sensor is the length of a standard blind plug Robust design – Tightening cap made of solid aluminum, which can withstand an installation torque of up to 50Nm Compatible to T-connectors acc. IEC50181 up to 36kV, Type C connectors Wide temperature range

ELEKTROCHEMIE Im Bereich Elektrochemie bieten wir folgende Messungen bzw. Methoden an: ELEKTROCHEMISCHE MESSUNGEN - EIS Elektrochemische Impedanzspektroskopie - CV Zyklovoltammeterie - ECN Elektrochemisches Rauschen - OCV Ruhepotential - Tafel-Plot-Messungen - etc. Elektrochemische Impedanzspektroskopie (EIS) Mit der elektrochemischen Impedanzspektroskopie (EIS) können elektrische Eigenschaften von Materialien und Phasengrenzflächen gemessen werden. Aus der Frequenzabhängigkeit des Wechselstromwiderstandes eines Messobjektes ermittelt man mit Hilfe von elektrischen Ersatzschaltungen Eigenschaften wie z.B. elektrische Leitfähigkeit, Dielektrizitätskonstante und die Kinetik von Stofftransportvorgängen und Elektrodenreaktionen. Einsatzgebiet: • Korrosionsforschung • Physikalische Chemie (z.B. Kinetik von Elektrodenprozessen) • Batterie- und Brennstoffzellenforschung • Charakterisierung von Sensoren • Materialforschung • Biologie Anwendungen: • Charakterisierung von Korrosionsschutz- und Passivschichten • Lackcharakterisierung • Wirkung von Inhibitoren • Aktivität von Katalysatoren • Dielektrika, Trennung von Bulk- und Grenzflächeneigenschaften polykristalliner Materialien • Mott-Schottky Analyse, z.B. an Metalloxiden – Passivschichten • Bestimmung der Kapazität der Doppelschicht METALLISCHE BESCHICHTUNG - Galvanische Beschichtungsverfahren, Probengröße bis 250 x 200 x 75 mm - Stromlose Beschichtungsverfahren, z.B. Metallisierung von Kunststoffen

PRODUCT DESCRIPTION The voltage sensors of Type VxxxAQ-xx are commonly used inside elbow connectors. The sensor has a point for common earth connection, and an output cable for connection with an intelligent electronic device (IED). PRODUCT ADVANTAGES Passive components – No need for power supplies for internal active devices Short-form factor – Sensor is the length as the elbow connector Compatible with many different Elbow-connectors Wide temperature range