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Die Mikroskopoptik für die Infrarotkamera optris Xi 400 ermöglicht eine verlässliche Temperaturmessung an winzigen Objekten ab 240 µm. Mikroskopoptik für die Inspektion von Leiterplatten Die Mikroskopoptik für die Infrarotkamera optris Xi 400 ermöglicht eine verlässliche Temperaturmessung an winzigen Objekten ab 240 µm. In Kombination mit einem passenden Ständer ermöglicht dies eine professionelle Messung von Leiterplatten und Komponenten in der Elektronikindustrie. Der Messabstand zwischen Kamera und Objekt ist variabel zwischen 90 und 110 mm. Durch den eingebauten Motorfokus lässt sich die Kamera bequem in der mitgelieferten PIX Connect Software fokussieren. Wichtige Parameter Analyse kleinster Komponenten ab 240 µm Motorfokus vereinfacht die Handhabung Optische Auflösung: 382x288 Pixel Aufnahme radiometrischer Videos Temperaturebereich: -20 °C bis 900 °C Spektralbereich: 8 - 14 µm Optische Auflösung: 382 x 288 Pixel Spannungsversorgung: USB Gewicht: 200 g Abmessung: Ø 36 mm x 100 mm