Finden Sie schnell optische messverfahren für Ihr Unternehmen: 16 Ergebnisse

Mit unserer 3D-SIZER-Software lassen sich präzise Schäden in allen drei Dimensionen vermessen. Mit den Wechselobjektiven unserer patentierten Stereo Optik erreichen Sie ein präzises Ergebnis. Diese Funktionen bietet unser Videoendoskop Argus 900 mit dem TIVE-900-Bildschirm. Auch bei großen Entfernungen und schräg liegenden Flächen

Portables Spektralphotometer mit Kugelgeometrie und vertikaler Bauform Die Konica Minolta Geräte CM-700d und CM-600d sind portable Kugelspektralphotometer mit vertikaler Bauform, perfekt geeignet für die präzise und wiederholbare Farbmessung an gekrümmten oder gewölbten Mustern. Möglich wurde dies durch die Anwendung von Konica Minolta`s fortschrittlichen Technologien in optischem Design und Signalverarbeitung.Bei jeder Messung werden die Daten für Glanzein- (SCI) und Glanzausschluß gemessen, um die Oberflächenbeschaffenheit des Musters zu analysieren. Drahtlose Datenkommunikation mittels Bluetooth® sowie eine große Farb-LCD-Anzeige für numerische und graphische Datenanalyse ermöglicht Farbmessung in bisher ungekannter Einfachheit. Zusätzlich bietet das CM-700d eine 3mm Messblende um auch kleinste Muster perfekt messen zu können. Einfache und intuitive Benutzerführung in 6 Sprachen garantiert eine maximale Effizienz für die tägliche Farbqualitätsprüfung im Labor oder der Produktion. Modell: CM-700d Messgeometrie: di:8°, de:8° (diffuse Beleuchtung, 8° Beobachtung). d:8° (diffuse Beleuchtung/8° Sichtwinkel), wählbare SCI- (di:8° mit Glanzeinschluss) und/oder SCE- (de:8° ohne Glanzeinschluss) Messung möglich. Entspricht den Standards CIE No. 15, ISO 7724/1, ASTM E- Kugel-Durchmesser: Ø 40 mm Wellenlängen-Bereich: 400 nm bis 700 nm Mess-/Beleuchtungsfläche: MAV: Ø 8 mm / Ø 11 mm SAV: Ø 3 mm / Ø 6 mm *wählbar zwischen MAV und SAV Reproduzierbarkeit: Spektrale Reflexion: Standardabweichung kleiner 0,1%, Farbmetrisch: Standardabweichung kleiner ΔE *ab 0,04* Bei 30-maliger Messung der Weißkalibrierfläche in 10 s-Intervallen nach vorheriger Weißkalibrierung Geräteübereinstimmung: Kleiner ΔE*ab 0,2 (MAV/SCI) * Bei Farbkacheln 12 BCRA Serie II verglichen mit Mastergerät Display: 2,36 Zoll TFT-Farb-Display Schnittstellen: USB1.1; Bluetooth® Standardversion 1.2* Beobachter: CIE: 2° und 10° Standard-Beobachter Normlichtarten: CIE: A, C, D50, D65, F2, F6, F7, F8, F10, F11, F12 (simultane Bewertung unter Verwendung von zwei Lichtquellen möglich) Anzeigemöglichkeiten: Spektralwerte/-kurven, kolorimetrische Werte, Farbdifferenzwerte/-kurven, PASS/FAIL-Ergebnisse, Farbfeld, Farbbewertung Farbsysteme: L*a*b*, L*C*h, Hunter Lab, Yxy, XYZ, Munsell sowie Farbdifferenzen in diesen Räumen (außer Munsell) Indizes: MI, WI (ASTM E313), YI (ASTM E313-73/ASTM D1925), ISO-Helligkeit, 8° Glanzwert Stromversorgung: 4 AA Alkaline-Trockenbatterien oder Nickel/Metallhydrid-Akkus; Netzadapter Abmessungen (B x H x T): 73 x 211,5 x 107 mm Gewicht: ca. 550 g (ohne Weißkalibrierungskappe und Batterien)

Das Produktportfolio von Sill Optics erstreckt sich von einfachen Kollimations- und Fokussieroptiken über Strahlaufweiter bis hin zu telezentrischen und nicht-telezentrischen Scanobjektiven. Es werden vor allem Anwendungen mit Festkörperlasern um die 1064 nm und deren Harmonische abgedeckt. Zusätzlich sind Objektive für Anwendungen mit Scheiben- bzw. Faserlaser mit den Wellenlängen 1030 nm bis 1090 nm als auch Diodenlaser im Bereich von 800 nm bis 980 nm und von 900 nm bis 1070 nm ausgelegt. Darüber hinaus sind viele unserer Objektive, Teleskope und Linsensysteme auch auf den Einsatz von Kurzpulslasern (Piko-Sekundenbereich) und Ultrakurzpulslasern (Femto-Sekundenbereich) optimiert. Für sehr kurze Wellenlängen um 193 nm und 248 nm, aber auch für langwellige Strahlung innerhalb des nahen und mittleren Infrarotbereichs (1550 nm und 1980 nm) bieten wir Optiken an. Eine große Auswahl an multispektralen Scan Objektiven bietet die Möglichkeit durch die Optik zu beobachten, oder mehrere Wellenlängen zu verwenden und rundet unser Sortiment ab.

Wir konzipieren, konstruieren und bauen optische Messplätze für Ihre Qualitätssicherung oder Ihre wissenschaftlichen Experimente und automatisieren sie mit LabView. Wir implementieren optische Verfahren, um Geometrien bis in den Nanometerbereich zu messen, Active Alignment zur mikrometergenauen Montage optischer Komponenten, Autokollimatoren für hochgenaue WInkelmessungen. Weitere Möglichkeiten: Wir implementieren für Sie faseroptische Dehnungs- und Temperatursensoren für Structural Health Monitoring und passen spektrometrische Messtechnik für Ihre chemischen Analysen an.

Mithilfe der Wirbelstromprüfung können elektrisch leitfähige Bauteile im oberflächennahen Bereich auf mikroskopisch kleine Unregelmäßigkeiten wie Poren, Einschlüsse und Risse untersucht werden. Auch die Prüfung von Materialeigenschaften sind durch dieses Verfahren möglich: Durch Veränderungen in der Leitfähigkeit der Bauteile können Schichtdickenprüfungen und Gefüge Untersuchungen durchgeführt werden. Aufgrund werkstückabhängiger Prüfstrategien kommen dabei verschiedene Sonden, Taster und Spulen zum Einsatz.

Durchführung der Prüfung und Erstellung von Berichten nach Kundenanforderungen

Unsere Messergebnisse stellen wir für Sie graphisch und numerisch als Protokoll dar. Mit unseren beiden Messmaschinen von STIEFELMAYER erstellen wir Messprotokolle verschiedenster Bauteile. Der Messbereich ist X=2800, Y=1600, Z=1800 mm. Dabei können wir eine Genauigkeit von bis zu 0,03 mm gewährleisten.

Konfokal-chromatische Sensoren der Serie confocalDT werden zur Dickenmessung eingesetzt mit hoher Auflösung und schneller Messrate eingesetzt. Unterschiedliche Sensormodelle und verschiedene Schnittstellen am Controller eröffnen vielfältige Anwendungen, z.B. in der Halbleiterindustrie, Glasindustrie, Medizintechnik und Kunststoffproduktion. Dank der leistungsfähigen Controller und den präzisen Sensoren können kleinste Details und Strukturen auf allen Oberflächen zuverlässig gemessen werden. Neben konfokalen Sensoren sind weitere Sensortechnologien für die Dickenmessung verfügbar.

Automatisierte Fertigungsprüfung von Kunstoff-Formteilen (Steuerungskomponenten) auf Produktionsmängel Prüfung von Kunststoff – Formteilen (Steuerungskomponenten) Ausgangslage: Ein ausgesprochen enger Toleranzbereich und die Abwesenheit von Herstellfehlern waren die Prüfkriterien in einer Produktionsreihe von Kunststoff-Formteilen, die Bestandteil der Steuerung in Kraftfahrzeugen sind. Jede Seite des Objekts muss zu 100 % geprüft werden, bevor sie das Werk verlässt. Kritische Punkte dieser Anwendung: Die noch immer durchgeführte visuelle Untersuchung der Teile im Hinblick auf Risse und Kerben sowie die manuelle Dimensionskontrolle sind für das Prüfpersonal ausgesprochen ermüdend, was mitunter zu falschen Ergebnissen führt. Dieser Zustand musste beendet werden. Lösung von QuellTech: Kunststoff – Formteile sind von Quelltech – Scannern einfach zu begutachten. Die Wahl fiel auf das Modell QuellTech Q4-120 Laser Scanner, der exakte reflexionsfreie Punktwolken in 3 D liefert. Herstellfehler und Toleranzabweichungen sind mittels Software mühelos zu erfassen. Schlechtteile werden sofort aussortiert. Vorteile für den Kunden Das Problem unentdeckter Bauteilmängel hat sich mittlerweile nahezu erledigt. Gleichzeitig hat der Hersteller seine Produktivität durch die entfallene manuelle Prüfung und den Übergang zur automatischen berührungsfreien 100% Prüfung, die den Produktionsfluss konstant hält, deutlich erhöht. Gewicht:: 1-2 kg Messverfahren:: Laser Triangulation

Druckprüfung Röntgen und Durchleuchten mit modernster X-RAY Technik Wandstärkenmessung mit Ultraschall Rissprüfung Chemische Analysen Zugproben und Härtetest Bauteilproben 3D-Maßkontrollen

Qualität ist unser Maßstab! Mit der konsequenten Ausrichtung auf höchste Qualität und Kundenzufriedenheit sehen wir uns für die Zukunft gut gerüstet. Über eine durchgängige Dokumentationsstruktur von Prozessbeschreibungen, Arbeitsanweisungen, Qualitätsaufzeichnungen und verfahrenstechnischen Vorgaben gewährleisten wir ein hohes Maß an Produkt- und Prozessqualität sowie Liefertreue. Leistungen: - Alle Bauteile werden von fortlaufend geschultem Personal einer Sichtprüfung unterzogen - Zugversuch gemäß DIN EN ISO 6892-1 an metallischen Werkstoffen bei Raumtemperatur - Härteprüfung nach Brinell gemäß DIN EN ISO 6506-1 folgende Analysen lassen wir bei akkreditierten und zugelassenen Partnern durchführen: - Kerbschlagversuch gemäß DIN EN ISO 148 - Ultraschallprüfung gemäß EN 12680-3 - Magnetpulverprüfung gemäß DIN EN 1369 - Farbeindringprüfung gemäß DIN EN 1371-1 auf Nachfrage erstellen wir folgende Zeugnisse nach EN 10204: - 3.1 Abnahmeprüfzeugnis - 2.2 Werkszeugnis

Zertifizierte Fachkompetenz Für unsere Kunden übernehmen wir vollumfängliche Qualitätsprüfungen. Dafür sind wir zertifiziert nach DIN ISO 9001:2015.

Automatisierte Messplätze für die hochgenaue Winkelmessung,Anewendungen in der Metrologie oder Active Alignment.

Optiken für die Industrielle Bildverarbeitung. Seit mehr als 40 Jahren entwickelt, fertigt und vertreibt Sill Optics telezentrische Objektive für die industrielle Bildverarbeitung. Basierend auf dem Erfolg früherer Profil-Projektions-Objektive, die auch heute noch erhältlich sind, wurde, entsprechend den steigenden Anforderungen, ein breites Angebot von telezentrischen Objektiven für moderne Bildverarbeitungsanwendungen entwickelt. Darüber hinaus reicht die Erweiterung dieses Sortiments von Objektiven mit koaxialer Lichteinkopplung, über entozentrische Makro- und Weitwinkelobjektive, bis hin zu telezentrischen Beleuchtungen. Sill Optics folgt dabei dem Prinzip, dass neben der Entwicklung auch die Fertigung am eigenen Standort in Deutschland erfolgt. Unsere Stärke ist neben einer hohen Qualität, vor allem die Flexibilität, mit der wir vergleichsweise kurzfristig kundenspezifische Lösungen, Modifikationen und Auslegungen bieten können.

Durchführung der Prüfung und Erstellung von Berichten nach Kundenanforderungen

Konstruktion und Prototypenbau von grossen, hochebenen Justierspiegeln Zwangsfreie Spiegelhalterungen für Wellenfrontfehler im nm-Bereich Gewichtsentlastung, horizontale oder vertikale Anordnung