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Der NanoScan OP400 Nanopositionierungs-Piezo-Objektivscanner bietet die schnellste Schritt- und Einschwingzeit aller verfügbaren Objektivpositionierer. Er verfügt über kapazitive Rückkopplungssensoren und hat außerdem eine marktführende Positioniergenauigkeit und Auflösung. Das System ist mit den meisten Mikroskopen und Objektiven kompatibel und verfügt über, vom Benutzer konfigurierbare Einstellungen, die für verschiedene Objektivgrößen, Gewichte und Leistungsanforderungen optimiert sind. Der Benutzer wählt einfach die beste Einstellung für seine Anwendung aus. Eigenschaften: - Optischer Schnitt zur Erzeugung von 3D-Bildern - Autofokussysteme für Zeitrafferaufnahmen - Screening mit hohem Gehalt - Analyse der Oberfläche - Wafer-Prüfung - Abtastinterferometrie

Lentikulare haben lineare Strukturen. Jede Rille verfügt über einen engen Radius, der für Mehrfach-Linienabbildungen sorgt. Lentikulare werden hauptsächlich für Projektionsschirme und dreidimensionale Abbildungen verwendet. Auf unserer Webseite finden Sie: Alle Angaben in mm. Die Angaben zur Brennweite beziehen sich auf 546nm für PMMA (max. Toleranz ± 5%). Die Linsen verfügen über einen unstrukturierten Rand von ca. 5 - 20mm. Die Standarddicke beträgt 1,8mm ± 0,3. Andere Abmessungen bzw. spezielle Zuschnitte sind auf Anfrage realisierbar. Spezielle Designs können auf Kundenwunsch umgesetzt werden.

Qualitätskontrolle einer Großoptik Beispiele für Großoptiken LAYERTEC bietet Großoptiken an, die in verschiedenen Anwendungen in der Industrie (Materialbearbeitung, Messtechnik, Halbleiterindustrie, Displayproduktion), Wissenschaft, Medizin und anderen Bereichen eingesetzt werden. In Zusammenarbeit mit dem Kunden entwickelt LAYERTEC große optische Komponenten vom Prototypen bis zur Serienproduktion. Zur Sicherstellung der zugesicherten Spezifikationen greift LAYERTEC auf verschiedenste Fertigungstechnologien und Prüfmethoden zurück. Optische Komponenten Planoptiken Sphären Zylinder Asphären / Off-axis Parabeln Freiformoptiken Formgenauigkeiten und Oberflächengüte Ebenheiten bis zu λ/20 Poliergrad P4 Rauheit Rq ≤ 0,5 nm Oberflächendefekte bis 1 ppm bezogen auf die Prüffläche Technologien für Substratfertigung CNC-Schleiftechnik bis 2000 mm Politur (Klassisch und CNC) bis 2000 mm Interferometrie (Plan- und Zylinderflächen) bis 2000 mm Rauheitsmessung (taktil und optisch) bis 2000 mm Multisensor-Koordinatenmesstechnik bis 2000 mm Ultraschallreinigung bis zu 1200 mm Technologien für Beschichtung IAD bis zu 1200 mm Magnetronsputtern bis zu 600 mm Beschichtungscharakterisierung (einschließlich OPO-CRD, PCI, LIDT)