Phenom ParticleX TC Desktop REM
Bauteilsauberkeitsanalyse mit einem vielseitigen Desktop-REM, 200’000 x, <10nm Auflösung, EDX Elementanalyse und SED als Optionen
Eigenschaften:
+ Exzellente Lösung für zuversichtliche MATERIALANALYSE, z.B. bei der AUTOMOTIVEN INDUSTRIE
+ Technische Reinheitsüberprüfung auf Mikrometer-Skala dank EDX Analyse
+ Beschleunigungsspannungen: Standard: 5 kV, 10 kV und 15 kV (erweiterter Modus: einstellbarer Bereich zwischen 4,8 kV und 20,5 kV)
+ Vakuumstufen: Niedrig, Mittel, Hoch,
+ Detektoren: Rückstreuelektronendetektor (Standard), Detektor für energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) (Standard), Sekundärelektronendetektor (Everhart-Thornley-Detektor, optional)
+ Probengröße: max. 100 mm x 100 mm (bis zu 36 x 12 mm Stiftprobenteller), max. 40 mm (h)
+ Beispielladezeit: Lichtoptisch <5 s, Elektronenoptisch <60 s
Anwendung:
+ Pharmazeutische Industrie
+ Pulver Partikelgrössenmessung, Nanopartikel
+ Metallurgische Analysen
+ Prozesskontrolle
+ Qualitätskontrolle
+ Forschungslabors
+ Fibermetric für die Analyse von Textilfasern
+ Asbestanalyse nach VDI 3492 (mit AsbestosScan Software)
+ Technische Reinheit nach VDA19 / ISO16232
+ Additive Fertigung (Qualitätskontrolle)
+ Tisch-REM, Tisch-Elektronenmikroskop, Tabletop-REM
+ EDX, EDS