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Unsere beiden modernen Universal- Rasterelektronenmikroskope ermöglichen Untersuchungen auf technisch höchstem Niveau. Die hochauflösenden Analyseverfahren mit SE-, BSE und ESED- Detektor sowie der Möglichkeit der energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDX) erlauben, es auch kleinste Fehler und Abweichungen im Material aufzufinden. Die Rasterelektronenmikroskopie stellt ein Schlüsselverfahren der Schadensanalyse dar. So ermöglicht die rasterelektronenmikroskopische Bruchflächenuntersuchung Rückschlüsse auf den Bruchmechanismus der zum Versagen führte. Die Bewertung von hochbeanspruchten Bauteiloberflächen, z.B. Wälzlagerlaufflächen, im REM liefert wichtige Informationen über im Einsatz auftretende Betriebszustände und den Schädigungsgrad der Oberflächen.