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Onset HOBO MX1101 Bluetooth Smart-Raumklimalogger

Onset HOBO MX1101 Bluetooth Smart-Raumklimalogger

Der HOBO MX1101 Bluetooth-Raumklimalogger erfasst Lufttemperatur und relative Feuchte und sendet die Daten via Bluetooth Smart an mobile Endgeräte, auf denen die HOBOmobile-App installiert ist. Der HOBO MX1101 Datenlogger mit Bluetooth Low Energy-Funktechnik protokolliert Temperatur und relative Feuchte in Innenräumen und kommuniziert bis zu einer Entfernung von 30 Metern drahtlos mit mobilen Endgeräten und Windows-Computern, auf denen die kostenlose HOBOconnect App (verfügbar für Android, iOS und iPadOS sowie für Windows) installiert ist. Mithilfe der App können Sie den Logger einfach konfigurieren und auslesen sowie sich die Messdaten auf Ihrem Smartphone, Tablet oder Windows Computer anzeigen lassen bzw. zur weiteren Analyse exportieren. Artikelnummer: MX1101 Gewicht: 56 Gramm Maße: 3,66 x 8,48 x 2,29 cm Schutzart: IP50 Schnittstelle: Bluetooth Low Energy
Onset HOBO MX2304 Outdoor-Temperaturlogger mit externem Sensor

Onset HOBO MX2304 Outdoor-Temperaturlogger mit externem Sensor

Der HOBO MX2304 ist ein robuster Outdoor-Datenlogger (Schutzklasse IP67 und NEMA 6) mit externem Temperatursensor für präzise Langzeitmessungen. Dank Bluetooth Low Energy-Funktechnik können Sie den Logger drahtlos mithilfe der kostenlosen HOBOconnect App, lauffähig auf mobilen Endgeräten unter Android, iOS und iPadOS sowie auf Computern mit Microsoft Windows, einfach und schnell konfigurieren und die Daten herunterladen, analysieren und exportieren. Artikelnummer: MX2304 Gehäuseabmessungen: 10,8 x 5,08 x 2,24 cm Genauigkeit (typisch): ±0,2 °C Kabellänge des Sensors: 2 Meter Speicher: 84.650 Messwerte Schnittstelle: Bluetooth Low Energy
NEXIV VMZ-S Series

NEXIV VMZ-S Series

Die Videomesssysteme der NEXIV VMZ-S-Serie von Nikon bieten hohe Genauigkeit, Geschwindigkeit und Benutzerfreundlichkeit für Inspektionsanwendungen bis hin zur Mikroebene. Geschwindigkeit und Genauigkeit, wo hoher Durchsatz kritisch ist. Die VMZ-S Serie bietet drei Arten von Messoberflächen, zusammen mit einer Reihe von hochwertigen Optiken, die standardmäßig mit einem TTL-Scanning-Laser (durch das Objektiv) ausgestattet sind. Die VMZ-S Serie ist in der Lage, hochpräzise und schnelle Messungen für immer anspruchsvollere Inspektionsanwendungen durchzuführen und wird in einer Vielzahl von Branchen eingesetzt. 6 Arten von optischen Zoom-Systemen Das System wurde von Grund auf neu entwickelt und verwendet eine speziell entwickelte Nikon-Optik, die hochpräzise Messungen ermöglicht. Hochgeschwindigkeits-Höhenmessung Die hochpräzise Hochgeschwindigkeits-Höhenmessung wird durch den präzisen Laser-Autofokus durch das Objektiv ermöglicht, der eine Hochgeschwindigkeitsabtastung mit 1.000 Punkten pro Sekunde ermöglicht. Messung schwieriger Proben Schwierige Kanten und Eigenschaften können Dank der einzigartigen Beleuchtungsoptionen von Nikon problemlos gemessen werden. Automatische Non-Stop-Messung Trotz unterschiedlicher Positionierung der Bauteile kann eine genaue Messung durchgeführt werden.
iNEXIV VMA Series

iNEXIV VMA Series

Mit einem großen Sichtfeld, einem langen Arbeitsabstand und großen XYZ-Hüben bietet die iNEXIV VMA-Serie ein Optimum an Benutzerfreundlichkeit für die automatische Messung von 3D-Komponenten. Verschiedene Messanwendungen mit einem weiten Sichtfeld Die iNEXIV VMA-Serie bietet drei Arten von Messbereichen und eine Optik mit großem Sichtfeld. Diese taktilen Systeme sind ideal für eine Vielzahl von industriellen Mess-, Inspektions- und Qualitätskontrollanwendungen, bei denen sowohl visuelle als auch taktile Messungen eingesetzt werden. Die VMA-Serie ist für Schnelligkeit und Benutzerfreundlichkeit sowie für die wiederholbare, genaue Messung einer Vielzahl unterschiedlicher Komponenten optimiert. Großer Arbeitsabstand Der iNEXIV VMA hat einen großen Arbeitsabstand von 73,5 mm. Er eignet sich gut für Tiefenmessungen, bei denen die Höhenunterschiede groß sind, wie z. B. an hohen Vorsprüngen und in feinen, tiefen Löchern. Taktile Messung (Optional) Die iNEXIV VMA ist in der Lage, die Abmessungen und Winkel von nicht sichtbaren Eigenschaften zu messen, wie z. B. Löcher an der Seite eines Bauteils.
Hand- und Maschinenstempel

Hand- und Maschinenstempel

Stempel zur manuellen oder maschinellen Stempelung von Werkstücken aus Metall Maschinenstempel gibt es in unzähligen Variationen, zum Beispiel als Pressenstempel zum Einbau in pneumatische, hydraulische und manuell betriebene Pressen, als ein- oder mehrzeilige Typenhalter für Stahltypen, als Walzenstempel und Abrollpräger mit Segmenttypen, als Stempelräder mit und ohne Rändelung für Drehmaschinen, als Doppelprägestempel und in vielen weiteren Formen. Ein vollständiger Überblick über die Möglichkeiten kann kaum geboten werden. Als Sonderhersteller bieten wir die Fertigung Ihres Stempelwerkzeuges exakt nach Ihren Vorgaben an. Alle Stempel werden aus legiertem Hochleistungs-Stempelstahl gefertigt, graviert und gehärtet. Handschlagstempel können in Schaftmaß und Gravur ganz nach Kundenvorgabe angefertigt werden. Häufig sind zum Beispiel Schweißerstempel mit ein oder zwei Buchstaben in einem geometrischen Symbol, zum Beispiel ein Kreis, eine Ellipse oder ein Dreieck. Ebenfalls häufig anzutreffen sind festgravierte Zeichenfolgen bis hin zu Firmennamen. Zu beachten ist, dass die Vorlage scharf gravierbar sein sollte, also aus Linien und nicht etwa Flächen besteht, da Flächen sehr viel Kraft aus dem Schlag nehmen. Für die Holzkennzeichnung ist eine Ausführung mit tiefer und scharfer Gravur möglich.
ECLIPSE LV150NA und LV150N

ECLIPSE LV150NA und LV150N

Eine Serie von flexiblen, modularen, aufrechten Mikroskopen für verschiedene episkopische optische Kontrastverfahren (BF-DF-DIC-POL-Fluoreszenz-Interferometrie). Modulare, motorisierte und manuell aufrechte Mikroskope Die hervorragenden Optiken der Nikon CFI60-2 Serie liefern exzellente Bilder für beide Okulare und für die digitalen Nikon-Kameras mit Analyse-Software. Dank des modularen Aufbaus ermöglicht das Universalmikroskop ergänzende optische Kontrastverfahren auf einem Mikroskopstativ. Nikon ECLIPSE LV150NA und LV150N Diese Mikroskope mit episkopischer Beleuchtung finden Ihren Einsatz für die Prüfung von Halbleitern, industriellen Materialien und Komponenten. Sie eignen sich auch für Anwendungen in Forschung und Entwicklung. Nikon CFI60-2 Objektiv-Serie Nikons innovatives Design ermöglicht kristallklare Abbildungen mit unterschiedlichen Kontrastverfahren, einschließlich kontrastreiche Hellfeld-, Dunkelfeld-, Polarisations- (POL), Interferenzkontrast- (DIC) und Zweistrahl-Interferometrie-Verfahren. Nikon Digital Sight Kameras Die gesamte Palette der Digital-Sight-Kameras von Nikon kann Bilder einer Probe aufnehmen und an die Bildverarbeitungs-Software der NIS-Elements-Suite übermitteln. Bei Verwendung des LV-ECON E-Controllers können auch Daten zu den verwendeten Objektiven, den eingestellten Vergrößerungen und Beleuchtungseinstellungen automatisch an die Software übermittelt und von ihr gesteuert werden. Integration von LV150N und Wafer-Loader NWL200 Nikons Wafer-Loader sind in der gesamten Halbleiterindustrie anerkannt und bewährt, und viele Installationen sind heute im Einsatz. Universelle optische Kontrastverfahren Reflektiertes Licht: Hellfeld, Dunkelfeld, Polarisation (POL), differenzieller Interferenzkontrast (DIC), Epi-Fluoreszenz und Zweistrahl-Interferometrie. Modulares Komponentenzubehör Vom Lampenhaus bis zum Okular werden die Komponenten so ausgewählt, dass sie der Anwendung des Benutzers entsprechen. Dazu gehören Stative, Tische, Objektive, Objektivrevolver, Einblicktuben, Okulare, Digitalkameras, Filter und Zubehör für Kontrastverfahren. Intelligente digitale Kommunikation Mit Hilfe eines LV-ECON E-Controllers können die Mikroskope LV150NA und LV150N die Objektive, die Lichtintensität, die Blende und den Epi-Kontrast über die Nikon-Software NIS-Elements erkennen und steuern. Das LV150N erkennt und meldet die Objektivlinse mit Hilfe des LV-NU5I und LV-INAD. Ergonomisches Design Die optimale Positionierung der Bedienelemente und der variable Winkel des Einblicktubus ermöglichen ein ermüdungsfreies Arbeiten. Seitenrichtige aufrechte Bilder ermöglichen die korrekte Beobachtung von Rohstoffen, Halbleitern und industriellen Komponenten.