Prüfeinrichtung für bestückte Leiterplatten

Manuelle Prüfeinrichtung für hochgenaues Kontaktieren dank optischer Ausrichtung. Der Microtester MCit ist ein manuelles Testsystem zum einseitigen - optional auch beidseitigen – Prüfen von bestückten und unbestückten Substraten. Die Zuführung der Substrate erfolgt manuell. Die Position kann in der X- und Y-Achse, sowie in der Rotation mit Hilfe des Kamerasystems und der Einstellschrauben genauestens justiert werden. Die Kontaktierung erfolgt automatisch mittels pneumatischer Hubachse. Der MCit Microtester eignet sich für den Einsatz im Labor oder zum Debuggen der Prüfprogramme. Die eingesetzten Adapter können ebenfalls auf den halb- und vollautomatischen Microtestern von MicroContact eingesetzt werden.