LORESTA GX - Leitfähigkeitsmessgerät für den niederohmigen Bereich

Das Loresta GX arbeitet nach der 4 – Punkt – Messmethode, welche zur Messung von Widerständen im unteren Widerstandsbereich von verwendet wird. Die Methode basiert auf dem Vierleiterverfahren Das LORESTA-GX dient zur Messung des spezifischen Flächenwiderstandes (Ω/□), des spezifischen Volumenwiderstandes (Ω·cm) und der spezifischen elektrischen Leitfähigkeit (S/cm) im niederohmigen Bereich. Das Loresta-GX verfügt über einen erweiterten Messbereich von 10-4~107 Ω und besitzt über einen Modus mit dem Messungen von Silizium Wafern möglich sind. Ein farbiges 7.5“ TFT LC-Touch Display erleichtert das Ablesen der Daten und die Menüführung. Zudem können die Daten über die USB Schnittstelle auf einem PC übertragen werden. Durch die automatischen Messmodi Auto-Hold und Timer-Modus ist eine komfortable One-Touch Bedienung möglich. Die angelegte Spannung kann selektiv gewählt werden, so dass auch Messungen von Materialien mit einer geringen Leitfähigkeit möglich sind. Erhältlich sind verschiedene Typen von Messköpfen, die je nach Beschaffenheit des Messobjektes eingesetzt werden können.