LEIS Low Energy Ion Scattering (Niedrigenergie-Ionenstreuung)

LEIS LOW ENERGY ION SCATTERING (NIEDRIGENERGIE-IONENSTREUUNG) Bei Low Energy Ion Scattering Spektroskopie (LEIS; Niederenergie-Ionenstreuung) wird die äußerste Oberfläche von Proben mit Hilfe von Edelgas-Ionen untersucht. Sie ermöglicht die Untersuchung der äußersten atomaren Schicht von Materialien, und die Elementzusammensetzung kann mit bisher unerreichter Genauigkeit quantifiziert werden. Mit verschiedenen Edelgasen (He, Ne, Ar) können fast alle Elemente analysiert und sogar zwischen nahe gelegenen Massen unterschieden werden (z. B. Au/Pt, Cr/Fe/Mn/Co/Ni). Zusätzliche Time-of-Flight (ToF)-Filter senken die Nachweisgrenze, so dass auch leichte Elemente präzise analysiert werden können. Alternativ kann auch eine Ar-Sputterkanone eingesetzt werden. Durch die Durchführung von Tiefenprofilen in Kombination mit der atomaren Auflösung von LEIS können Proben Atomschicht für Atomschicht analysiert werden. In Kombination mit unseren Analysewerkzeugen im ELSA-Cluster können atomare Auflösung und chemische Informationen über die Oberfläche gewonnen werden. Anwendungen: - Katalyse - Halbleiter - Korrosion - Legierungen - Keramiken - Polymere - Pulver und vieles mehr