... auch für den OEM-Einsatz erhältlich sind.
Ein weiterer Bereich ist die spektroskopische Ellipsometrie u.a. zur Schichtdickenbestimmung. Nicht nur die Schichtdicke, sondern auch die elementare Zusammensetzung lässt sich mit einem Glimmentladungsspektrometer (GD-OES) bestimmen. Weitere Systeme im Bereich Elementanalytik sind N-O-H, C-S und Schwefel in Öl Analysatoren sowie Röntgenfluoreszenz.
Viele...
...Bruker baut Spektrometerfür die Bestimmung der Elementkonzentration von 100% bis zu sub-ppb-Spuren. Benutzerfreundliche Lösungspakete helfen den Kunden bei der Prozess- und Qualitätskontrolle und Industrienormen und -standards wie ASTM, DIN, ISO und FDA zu erfüllen. Höchste analytische Genauigkeit und Präzision ermöglichen akademische Forschung im Labor genauso wie direkt vor Ort.
Elementanalyse von CS und ONH in anorganischen Materialien.
Spectromètres à émission optique, à fluorescence de rayons-X,automatisation et diffractomètres XRD pour l’analyse élémentaire et de phase d’échantillons solides et liquides pour le contrôle qualité.
A trading company with an emphasis on creativity and leading-edge technology, Hitachi High-Technologies Co. , Ltd. Japan is a member of the Hitachi Group.
Hitachi High-Technologies Co. , Ltd. Japan ist ein
Handelsunternehmen mit Fokus auf Kreativität und
Spitzentechnologie. Hitachi High-Technologies Co. , Ltd.
ist Mitglied der Hitachi Gruppe. In Europa betreut das
Unternehmen eine Vielfalt von Pr...
Die Firma MAX C. MEISTER AG wurde im Jahre 1934 durch Herrn Max C. Meister als Industrievertretung gegründet. Das Unternehmen hat sich während Jahrzehnten als zuverlässiger Partner im Bereich der zerstörungsfreien Materialprüfung etabliert. Im Vordergrund standen dabei die beiden sich ergänzenden Verfahren der Röntgen- und Ultraschalltechnik.
Im Zuge der zunehmenden Flugzeugentführungen wurde End...