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Deutschland, Münster
1999
10-19
Lieferung: Weltweit
Zertifikate: 2
Dienstleister...Die Sekundärionenmassenspektrometrie (TOF-SIMS) ermöglichst die Messung der atomaren und molekulare Zusammensetzung der obersten 1-3 Monolagen einer Probe. Insbesondere erlaubt sie eine eindeutige Ide
Kurzprofil der ToF-SIMS:
Nachweis aller Elemente (inkl. Isotope), molekulare Informationen
Nachweisgrenze im Bereich von Sub-Monolagen (ppm)
Informationstiefe ca. 1-3 Monolagen
Laterale...
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Labor für ToF-SIMS - Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie
Deutschland, Esslingen
10-19
Lieferung: Europa
Zertifikate: 2
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Deutschland, Frankfurt
1991
200-499
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1988
200-499
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1991
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